NIR Plan Apo 50X/0.67 – Objetiva metalúrgica com correção para o infinito para imageamento através do silício e monitoramento de processos a laser de fibra.

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Objetiva metalúrgica com correção para o infinito para imageamento através do silício e monitoramento de processos a laser de fibra.

A objetiva planapocromática NIR Plan Apo 50X/0.67 é uma objetiva de microscópio premium com correção para o infinito, otimizada especificamente para aplicações no infravermelho próximo (NIR). Com uma abertura numérica (AN) de 0,67 e uma distância de trabalho (DT) de 10 mm, ela oferece resolução excepcional (0,5 µm) e excelente transmissão NIR em toda a faixa visível de 380 a 700 nm, bem como no comprimento de onda crítico de 1064 nm – tornando-a ideal para inspeção da parte traseira de wafers de silício, metrologia de interconexões através do silício (TSV) e monitoramento em tempo real do processamento a laser de fibra.

Especificações principais:

  • Ampliação: 50X
  • Abertura Numérica (AN): 0,67
  • Distância de trabalho (WD): 10 mm
  • Distância focal: 4 mm
  • Resolução: 0,5 µm
  • Profundidade de campo (±DF): 0,75 µm
  • Campo de visão máximo: 0,5 mm
  • Peso: 430 g
  • Design óptico: Correção para o infinito, apocromático plano (APO)
  • Comprimento de onda de trabalho: 380–700 nm e 1064 nm
  • Meio de imersão: Ar

Detalhes do produto

Etiquetas do produto

Aplicações típicas:
Inspeção de semicondutores– Inspeção da face posterior do wafer, medição de TSV (through-silício via), revisão de defeitos após corte a laser
Análise de falhas– Obtenção de imagens não destrutivas através de substratos de silício para inspeção de estruturas enterradas.
Processamento a laser– Observação em tempo real da ablação, perfuração ou soldagem a laser de fibra de 1064 nm em ciência de materiais e manufatura.
Metalurgia e ciência dos materiais– Inspeção de alta resolução de zonas afetadas pelo calor do laser, camadas refundidas e microestruturas.
Microscopia de fluorescência NIR– Para amostras biológicas ou de materiais que requerem excitação no infravermelho próximo
Objetiva do microscópio




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